當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 鍍層測(cè)厚儀 > 牛津儀器 > MAXXI 5蘇州供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測(cè)厚儀
簡(jiǎn)要描述:蘇州供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測(cè)厚儀是無(wú)損測(cè)厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測(cè)量,快速簡(jiǎn)潔只需要10秒即可得出測(cè)量結(jié)果,是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的Z佳檢測(cè)工具。奔藍(lán)科技供應(yīng)英國(guó)牛津儀器所有零配件:鍍層測(cè)厚儀類(lèi):牛津光管、高壓包、接收器、鍍層標(biāo)準(zhǔn)片、Z軸控制板、24V電源等。。。銅厚測(cè)厚儀類(lèi):孔銅探頭、面銅探頭、孔銅標(biāo)準(zhǔn)片、面銅標(biāo)準(zhǔn)片等。。。
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MAXXI5 X射線鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)地:英國(guó) 品牌:牛津儀器 型號(hào):MAXXI5
儀器原理及測(cè)量方法介紹:
● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測(cè)量?jī)x的特征,滿足標(biāo)準(zhǔn)ISO 3497-2000或GB T16921-2005金
屬覆蓋層 鍍層厚度的測(cè)量 X射線光譜法
● 2.測(cè)量原理蘇州供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測(cè)厚儀
如下圖1所示,物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái),而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度,來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
● 3.鍍層厚度的測(cè)量方法蘇州供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測(cè)厚儀
鍍層厚度的測(cè)量可分為標(biāo)準(zhǔn)曲線法和FP法(基本參數(shù)法)2種。標(biāo)準(zhǔn)曲線法是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量示知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
FP法即是Fundamental Parameter Method的簡(jiǎn)稱(chēng)。即基本參數(shù)法。
1)標(biāo)準(zhǔn)曲線法:如下圖所示,經(jīng)X射線照射后,鍍層和底材都會(huì)各自產(chǎn)生熒光X射線,我們必需對(duì)這2種熒光X射線能夠辨別,方能進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量。也就說(shuō),鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的,這是測(cè)量鍍層厚度的先決條件。
鍍層厚度測(cè)量時(shí),可采用兩種不同方法。一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度,稱(chēng)為激發(fā)法。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度,稱(chēng)為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來(lái)區(qū)分使用。
鍍層厚度測(cè)量時(shí),測(cè)量已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度之間的關(guān)系,并做出標(biāo)準(zhǔn)曲線。然后再測(cè)量未知樣品的熒光X射線強(qiáng)度,得到鍍層厚度。但是需注意的是,熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強(qiáng)度來(lái)求得單位面積的元素附著量,再除以元素的密度來(lái)得出其厚度。所以,對(duì)于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品,需要進(jìn)行修正。奔藍(lán)科技昆山分公司 吳生:151九零一九4078
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